Klos, J.; Tröger, J.; Keutgen, J.; Losert, M. P.; Abrosimov, N. V.; Knoch, J.; Bracht, H.; Coppersmith, S. N.; Friesen, M.; Cojocaru-Mirédin, O.; Schreiber, L. R.:Bougeard, D.,Advanced Science;(2024), 2407442
Galazka, Z.; Blukis, R.; Fiedler, A.; Bin Anooz, S.; Zhang, J. J.; Albrecht, M.; Remmele, T.; Schulz, T.; Klimm, D.; Pietsch, M.; Kwasniewski, A.; Dittmar, A.; Ganschow, S.; Juda, U.; Stolze, K.; Suendermann, M.; Schroeder, T.:Bickermann, M.,Physica Status Solidi B-Basic Solid State Physics; (2024),
Hazra, S.; Schwaigert, T.; Ross, A.; Lu, H. D.; Saha, U.; Trinquet, V.; Akkopru-Akgun, B.; Gregory, B. Z.; Mangu, A.; Sarker, S.; Kuznetsova, T.; Sarker, S.; Li, X.; Barone, M. R.; Xu, X. S.; Freeland, J. W.; Engel-Herbert, R.; Lindenberg, A. M.; Singer, A.; Trolier-McKinstry, S.; Muller, D. A.; Rignanese, G. M.; Salmani-Rezaie, S.; Stoica, V. A.; Gruverman, A.; Chen, L. Q.; Schlom, D. G.:Gopalan, V.,Advanced Materials; (2024),
Kamath, A.; Ryzhak, D.; Rodrigues, A.; Kafi, N.; Golz, C.; Spirito, D.; Skibitzki, O.; Persichetti, L.; Schmidbauer, M.:Hatami, F.,Materials Science in Semiconductor Processing;(2024), 108585
MacLean, J.; Bartholomaeus, A.; Blukis, R.; Liebner, S.:Wagner, D.,Environmental Microbiome;(2024), 95
Feldbusch, E.; Zotzmanna, J.; Roddatis, V.; Dideriksen, K.; Blukis, R.; Schleicher, A.:Regenspurg, S.,Applied Geochemistry;(2024), 106157
Mock, A.; Richter, S.; Papamichail, A.; Stanishev, V.; Ghezellou, M.; Ul-Hassan, J.; Popp, A.; Bin Anooz, S.; Gogova, D.; Ranga, P.; Krishnamoorthy, S.; Korlacki, R.; Schubert, M.:Darakchieva, V.,Physical Review Applied;(2024), 044003
Kalusniak, S.; Badtke, M.; Püschel, S.; Hahn, O.; Tanaka, H.:Kränkel, C.,Optics Express;(2024), 40020-40029
Michler, S.; Hamdaoui, Y.; Thapa, S.; Schwalb, G.; Besendörfer, S.; Ziouche, K.; Albrecht, M.; Brunner, F.; Medjdoub, F.:Meissner, E.,Physica Status Solidi a-Applications and Materials Science; (2024),
Püschel, S.; Liestmann, Z.; Kalusniak, S.; Kränkel, C.; Schulz, A.; Traub, H.:Tanaka, H.,Optical Materials Express;(2024), 2334-2348
Plech, A.; Gaal, P.; Schmidt, D.; Levantino, M.; Daniel, M.; Stankov, S.; Buth, G.:Albrecht, M.,New Journal of Physics;(2024), 103024
Ferguson, G. M.; Nair, H. P.; Schreiber, N. J.; Miao, L. D.; Shen, K. M.; Schlom, D. G.:Nowack, K. C.,Physical Review B;(2024), 144510
Lünser, K.; Neumann, B.; Schmidt, D.; Ge, Y. R.; Hensel, D.; Khosla, M.; Gaal, P.:Fähler, S.,Journal of Physics-Materials;(2024), 045007
Tsiapkinis, I.; Wintzer, A.:Dadzis, K.,Journal of Crystal Growth;(2024), 127800
Emtsev, V.; Abrosimov, N.; Kozlovski, V.; Lastovskii, S.; Oganesyan, G.:Poloskin, D.,Journal of Applied Physics;(2024), 105108
Meisenheimer, P.; Ramesh, M.; Husain, S.; Harris, I.; Park, H. W.; Zhou, S. Y.; Taghinejad, H.; Zhang, H. R.; Martin, L. W.; Analytis, J.; Stevenson, P.; Iniguez-González, J.; Kim, S. K.; Schlom, D. G.; Caretta, L.; Yao, Z.:Ramesh, R.,Advanced Materials;(2024),
Hensling, F. V. E.; Vogt, P.; Park, J.; Shang, S. L.; Ye, H. C.; Wu, Y. M.; Smith, K.; Show, V.; Azizie, K.; Paik, H.; Jena, D.; Xing, H. G.; Suyolcu, Y. E.; van Aken, P. A.; Datta, S.; Liu, Z. K.:Schlom, D. G.,Advanced Electronic Materials; (2024),
Paul, A.; Liestmann, Z.; Zaenker, S.; Vogel, K.; Broszies, T.:Ostermann, M.,X-Ray Spectrometry; (2024),
Cifuentes, J. D.; Tanttu, T.; Steinacker, P.; Serrano, S.; Hansen, I.; Slack-Smith, J. P.; Gilbert, W.; Huang, J. Y.; Vahapoglu, E.; Leon, R. C. C.; Stuyck, N. D.; Itoh, K.; Abrosimov, N.; Pohl, H. J.; Thewalt, M.; Laucht, A.; Yang, C. H.; Escott, C.; Hudson, F. E.; Lim, W. H.; Rahman, R.; Dzurak, A. S.:Saraiva, A.,Physical Review B;(2024), 125414
Frodason, Y. K.; Galeckas, A.; Olsen, V. S.; Weiser, P. M.; Galazka, Z.; van de Walle, C. G.:Vines, L.,Physical Review Materials;(2024), 094604
